MICROSCOPIA DE ESCANSE DE ELETRÔNIO (SEM)

MICROSCOPIA ELETRÔNICA DE VARREDURA (MEV)

Os microscópios eletrônicos de varredura apresentam, atualmente, resoluções altíssimas e aumento 600.000X, com possibilidade de aumento de até 2.000.000X por isso são utilizados nas pesquisas das áreas biomédicas e de materiais.

O princípio da microscopia eletrônica de varredura na pesquisa consiste na emissão de um feixe de elétrons por um filamento de tungstênio, que concentrado, controlado e reduzido por um sistema de lentes eletromagnéticas, bobinas e diafragmas, incide sobre a amostra, provocando uma série de emissões de sinais relacionados com a interação do feixe de elétrons incidente e a amostra. Os sinais emitidos encontram-se sob a forma de elétrons (secundários, retroespalhados, absorvidos, transmitidos, difratados e outros) e de fótons (fotoluminescentes e raios-X), os quais são captados por detectores apropriados, sendo amplificados e processados num sistema analisador específico para cada tipo de sinal.

A técnica de microscopia eletrônica de varredura (MEV) permite a obtenção de uma imagem ampliada e tri-dimensional da amostra. O feixe de elétrons (elétrons primários) gerado por efeito termo-iônico é acelerado através de uma diferença de potencial e mirado através de uma coluna ótico-eletrônica sendo conduzido à câmara que contém a amostra. Este feixe de elétrons ao focalizar um ponto da amostra gera sinais que são captados e amplificados fornecendo um sinal elétrico que gera a imagem. Conforme o feixe varre a área em análise, uma imagem virtual vai sendo formada ponto a ponto.

O contraste nas imagens obtidas por elétrons retroespalhados decorre das diferenças de número atômico do titânio e do molibdênio que compõem a amostra: números atômicos mais elevados retroespalham mais elétrons resultando em pontos mais brilhantes na amostra. Desta forma, a imagem que resulta dá idéia da heterogeneidade da composição da amostra.