ANÁLISE DE DIFRAÇÃO DE RAIOS X

1. Análise de Difração de Raios X: Princípios e Aplicações para Investigação das Estruturas dos Materiais de Engenharia

Partindo dos dados presentes na planilha do Excel correspondente ao nosso grupo (fornecido pela professora), a primeira coisa que fizemos foi procurar os picos de intensidade e seus respectivos ângulos (2θ) - dados em graus - para conseguirmos realizar a montagem da tabela de dados. Para cada pico de intensidade observado, obtivemos seus ângulos (2θ) correspondentes e seu respectivo ângulo θ e, consequentemente, os valores de sen(θ) e de sen²(θ). Também vale dizer que nos foi dado que o comprimento de onda utilizado no experimento equivale a λ=0,154184 nm.

Partindo das expressões:

[pic 1] (1)

 e

 [pic 2](2)

deduz-se a equação:

[pic 3](3)

o que mostra que sen²(θ)/S resulta em um valor constante.

Baseado em valores tabelados de S e respectivos planos hkl para as estruturas CS (Tabela 1), CCC (Tabela 2) e CFC (Tabela 3), calculamos três tabelas - sendo um teste para cada estrutura:

Tabela 1: Teste para estrutura CS

[pic 4]

   Tabela 2: Teste para estrutura CCC

[pic 5]

Tabela 3: Teste para estrutura CFC

[pic 6]

Observando estas três tabelas, notamos que sen²(θ)/S (representada na tabela através de sua expressão equivalente λ²/4a²) é constante apenas para a Tabela 3 (estrutura CFC - cúbica de face centrada), e isso nos permite concluir que é esta a estrutura cristalina com a qual estamos trabalhando! Partindo da equação (3) teremos:

[pic 7](4)

e, visto que estamos lidando com a estrutura CFC, a relação raio-aresta é dada por:

[pic 8](5)

Obtendo os valores de aresta e a relação raio-aresta, conseguimos calcular seus respectivos espaçamentos interplanares dhkl - através da equação (2) - e raios R, obtendo a tabela final:

Tabela 4: Dados gerais - Estrutura Cúbica de Face Centrada

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