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ANÁLISE DE DIFRAÇÃO DE RAIOS X: PRINCÍPIOS E APLICAÇÕES PARA INVESTIGAÇÃO DAS ESTRUTURAS DOS MATERIAIS DE ENGENHARIA

Por:   •  6/3/2017  •  Relatório de pesquisa  •  323 Palavras (2 Páginas)  •  154 Visualizações

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ANÁLISE DE DIFRAÇÃO DE RAIOS X: PRINCÍPIOS E APLICAÇÕES PARA INVESTIGAÇÃO DAS ESTRUTURAS DOS MATERIAIS DE ENGENHARIA

Amanda 11119714

Ana Luisa Saito 11021215

Gabriel Sodré 11037313

Giulia Lazzarutti 11045113

Guilherme Saldanha 11106913

Gráfico 1 - Difratograma do Cu

Através de cálculos aprendidos em aula, obtemos, a partir do gráfico, as seguintes informações:

Intensidade

Int. Relat. (%)

Θ

senΘ

Sen²Θ

d

38.1

3572

100,00%

19.05

0.326

0.106

0.236

44.3

1760

49.20%

22.15

0.377

0.142

0.204

64.5

1054

29.50%

32.25

0.533

0.284

0.144

77.5

1059

29.60%

38.75

0.625

0.39

0.123

81.6

299

8.30%

40.8

0.653

0.426

0.118

98

134

3.70%

49

0.754

0.568

0.102

110.6

383

10.30%

55.3

0.822

0.675

0.093

115.1

380

10.60%

57.55

0.843

0.71

0.091

135.1

306

8.50%

67.55

0.924

0.853

0.083

157.2

343

9.60%

78.6

0.98

0.96

0.078

Tabela 1 - Valores referentes ao Difratograma do Cu

O valor da intensidade foi normalizado utilizando-se o maior pico como 100% e os demais tiveram seus valores relativos, sendo o pico o referencial.

O espaço interplanar foi obtido com o uso da fórmula:

n = 2 d𝗁𝗄𝗅 sen

=0.154184

Para descobrir a estrutura do material é preciso comparar os padrões utilizando a seguinte fórmula:

...

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